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首页>>深圳华普通用科技有限公司>>产品展示>>材料膜厚仪

  • 日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM SERIES 参考价:面议

    使用显微光谱法在微小区域内通过反射率进行测量,可进行高精度膜厚度 光学常数分析。 可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度,例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。...
    型号: 厂商性质:经销商所在地: 对比
    2020/12/4 16:51:04272

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